Soitec: RFSOI wafer characterization

February 21, 2017 // By Soitec
This paper describes how Soitec‘s measurement of the RFeSI wafers it produces is able to predict the RF performance of final devices manufactured on them.
Company: 
Soitec, RFSOI

Vous êtes certain ?

Si vous désactivez les cookies, vous ne pouvez plus naviguer sur le site.

Vous allez être rediriger vers Google.